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Impact of a Laser Pulse On HfO2-based RRAM Cells Reliability and Integrity

机译：激光脉冲对基于HfO2的RRAM单元可靠性和完整性的影响

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29th IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), Yokohama, JAPAN, MAR 28-31, 2016

机译：第29届IEEE微电子测试结构国际会议（ICMTS），日本横滨，2016年3月28日至31日

著录项

作者
Krakovinsky, A.; Bocquet, M.; Wacquez, R.; Coignus, J.; Deleruyelle, D.; Djaou, C.; Reimbold, G.; Portal, J-M.;
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作者单位

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年度 2016
总页数
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Impact of a Laser Pulse On HfO2-based RRAM Cells Reliability and Integrity

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